国家知识产权局信息显示，安测半导体技术（义乌）有限公司申请一项名为“一种基于人工智能的芯片测试良率预测方法及装置”的专利，公开号CN121324890A，申请日期为2025年10月。

专利摘要显示，本发明属于芯片测试领域，为了解决目前芯片良率预测的准确性有待进一步提高的问题，本发明提供了一种基于人工智能的芯片测试良率预测方法及装置，该方法包括：采集并分析芯片测试的样本集数据，所述样本集数据为历史芯片测试数据；利用所述样本集数据训练预测模型；训练完成后，输入待预测的芯片数据，进行良率预测。本发明根据第一曲线的良率预测待测芯片的良率，第一曲线和第二曲线均包括芯片生产过程中的环境温度、湿度、电阻测试数据，IOFF漏电电流以及测试的良率，通过比较第一曲线与第二曲线的相似度，能够整体考虑环境温度、湿度、电阻测试数据，IOFF漏电电流等数据，从而提高了预测的准确性。

天眼查资料显示，安测半导体技术（义乌）有限公司，成立于2021年，位于金华市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本14722.7394万人民币。通过天眼查大数据分析，安测半导体技术（义乌）有限公司共对外投资了5家企业，参与招投标项目1次，专利信息29条，此外企业还拥有行政许可2个。

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本文源自：市场资讯

作者：情报员