国家知识产权局信息显示,物元半导体技术(青岛)有限公司申请一项名为“一种半导体结构的刻蚀方法”的专利,公开号CN121398475A,申请日期为2025年10月。

专利摘要显示,本发明公开了一种半导体结构的刻蚀方法,该半导体结构的刻蚀方法包括提供一半导体基底,于半导体基底上依次形成氧化硅层、氮化硅层及光刻胶层,并在光刻胶层上形成光刻胶开口。基于光刻胶开口采用由氢氟烃、氧气及氩气形成的混合气体刻蚀氮化硅层,在刻蚀过程中,反应腔室内分解的H与F的质量分数比为1:15~1:20,C的质量分数介于所述H的质量分数与F的质量分数之间,使氮化硅与氧化硅的选择刻蚀比介于8:1~9:1,以获得氮化硅开口。通过上述方案,本发明能够在保护下层氧化硅的同时,对氮化硅进行高速率刻蚀,实现氮化硅与氧化硅的选择刻蚀比介于8:1~9:1,并形成较好的刻蚀形貌。

天眼查资料显示,物元半导体技术(青岛)有限公司,成立于2022年,位于青岛市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本52199.9997万人民币。通过天眼查大数据分析,物元半导体技术(青岛)有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目1次,专利信息136条,此外企业还拥有行政许可12个。

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作者:情报员