在微电子封装可靠性研究中，卤素离子（如Cl⁻、Br⁻）对金-铝键合界面的腐蚀机制已获得广泛关注，然而水分（H2O）在这一过程中的具体作用仍存在学术争议。现有研究显示，H2O可能并非单纯的介质，而是在不同条件下扮演着催化剂、反应物乃至侵蚀源的多重角色。
一、水分的多重作用机制
作为催化剂的权威观点
Klein的研究（约需10000 ppm水汽浓度）指出，H2O可在卤素腐蚀过程中起到催化作用，加速卤素离子与铝的化学反应，而不直接参与消耗。这一机制在高温高湿（如HAST）环境中尤为显著。
作为氧化剂的可能性
在高压、低温条件下，H2O可能直接作为氧化剂，促使金-铝界面形成空洞或层状金属间化合物（如AuAl₂、AuAl），导致键合强度退化。此类结构缺陷会显著增加界面电阻，引发早期失效。
作为材料降解的产物
即使在非高压环境中，高温（180–200℃）亦可能导致环氧树脂等封装材料分解，释放出内部结合的水汽。Thomas的密封器件实验表明，此类内生水分可能干扰对卤素单独作用的分析，使得实验条件复杂化。
二、卤素污染的独立作用与水分协同的必要性
上表系统列举了键合焊盘上卤素污染的常见来源及其影响。值得注意的是：
在无后续塑封的实验中，即使键合前在焊盘上引入氟、氯、溴等卤素，经热应力试验后仅观察到预期的界面退化，而未出现典型的键合腐蚀失效。
多数高温应力试验（如300℃烘烤、175℃老化）均在干燥氮气环境中进行，排除了液态水或高湿气氛的影响。在这些条件下，未观察到卤素单独导致的键合强度显著退化。
这表明，卤素污染本身虽可降低键合可靠性，但其引发严重电化学腐蚀往往需要水分的协同参与。尤其在塑封器件中，高温高湿（85℃/85% RH）或高压加速测试（HAST）所提供的水汽环境，可能是触发腐蚀的必要条件。
三、污染层厚度与失效模式的关联
研究进一步指出，键合失效常发生于污染层厚度足以阻碍键合形成时，而非单纯因化学反应导致已成型键合点的退化。这解释了为何在干燥环境中，即使存在卤素污染，键合界面仍可维持一定稳定性；而一旦引入水分，薄层污染亦可能通过电化学机制引发渐进性腐蚀。
四、学术共识的缺失与研究展望
目前，关于水分与卤素在键合腐蚀中的具体相互作用路径仍缺乏统一结论。争议焦点包括：水分是作为反应物直接参与氧化，还是仅作为离子迁移的介质？不同湿度条件下，腐蚀产物（如Al(OH)₃、Al₂O₃或卤化铝）的生成机制如何？内生水分（来自材料分解）与外界渗入水汽的作用是否等效？这些问题的厘清，需通过可控环境对比实验与界面微观分析进一步验证。
水分在卤素诱导键合腐蚀中扮演着关键而复杂的角色。其作用不仅取决于环境湿度，也与温度、压力、封装材料特性及污染物状态密切相关。在实际可靠性评估中，需综合考虑水汽来源、浓度及其与卤素的协同效应，以更准确地预测键合界面在长期使用中的行为。
科准测控在微电子失效分析领域，可提供包括温湿度循环测试、界面成分分析（如TOF-SIMS、EDS）以及密封器件内部气氛检测在内的综合解决方案，协助客户辨析多重因素耦合下的失效机理，为产品可靠性设计提供实证依据。
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