国家知识产权局信息显示，井芯微电子技术（天津）有限公司申请一项名为“一种基于UVM可重用批量回归测试用例的方法及装置”的专利，公开号CN121478638A，申请日期为2025年10月。

专利摘要显示，本申请提供了一种基于UVM可重用批量回归测试用例的方法及装置，包括：将待回归的测试用例对应保存至独立的回归文件中，并将回归文件进行合并汇总，将汇总文件下的各主通路测试用例顺序进行乱序处理，并使主通路的测试用例位于回归文件列表的最前位置；轮询读取回归文件中的列并进行列拆分，将拆分后的测试用例存储至一个数组中，遍历数组，并根据预先获取到的并行数量控制数组中的用例提交量通过仿真软件对测试用例进行批量并行回归，对遍历的回归结果进行分类操作并分别存储至对应文件中。本申请可大大节省用例回归时间，并且能尽早暴露问题，从而提升验证准确性与时效性。

天眼查资料显示，井芯微电子技术（天津）有限公司，成立于2020年，位于天津市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本686.0743万人民币。通过天眼查大数据分析，井芯微电子技术（天津）有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目56次，财产线索方面有商标信息19条，专利信息201条，此外企业还拥有行政许可2个。

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作者：情报员