国家知识产权局信息显示，上海美谱达仪器有限公司申请一项名为“一种测量精度高的原位紫外可见分光光度计”的专利，公开号CN121499409A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，本发明公开了一种测量精度高的原位紫外可见分光光度计，涉及紫外可见分光光度计技术领域，包括底壳，所述底壳的底部内壁设置有光学单元，所述光学单元的内部设置有光源模块和单色器，所述光学单元的顶部通过支撑杆固定连接有操作平台，所述操作平台的顶部设置有电机安装架，所述电机安装架的顶部设置有直线电机，所述直线电机的输出端连接有升降固定板，所述升降固定板呈Z字型结构，所述升降固定板远离直线电机的一端连接有遮光罩，所述遮光罩的顶部设置有光纤夹持架。本发明避免传统方法中因稀释倍数估算误差导致的结果偏差，减少高浓度样品的稀释次数，降低试剂消耗和废液产生，符合绿色分析化学理念。

天眼查资料显示，上海美谱达仪器有限公司，成立于2006年，位于上海市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海美谱达仪器有限公司参与招投标项目251次，财产线索方面有商标信息10条，专利信息18条，此外企业还拥有行政许可9个。

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作者：情报员