来源:市场资讯
(来源:明阳电路)
目前,印制电路板(PCB)厂商已经开始量产112G产品,作为当前阶段量产的传输速率最高的PCB产品。其在以下几个方面有特殊要求:首先,由于112G交换机产品使用的信号调制方式从不归零编码(non-return-to-zero,NRZ)转变为四电平脉冲幅度调制(pulse amplitude modulation 4-level,PAM4),PAM4在一个周期内传输4个码元00,01,10,11,在相同带宽下,数据传输速率翻倍。但因为电平间的幅度差变小了导致其抗噪声能力差,信噪比要求高,所以在传输路径中一点微小的变化都有可能导致信号失真,误码率急剧上升,接收端无法解码出正确信号。
因此对于112G产品而言,阻抗控制是重中之重,阻抗公差从±10%提升至±7%,孔阻抗从原来的无要求,到如今和线阻抗公差一样的要求。孔阻抗要求的提出,意味着PCB制造商们无法和之前产品一样通过增大引脚焊盘((Pin pads英文全称 ,PAD)的方式来减小对位难度,因为底PDA的增大,必然导致孔阻抗的下降。
除此之外,112G产品的奈奎斯特带宽来到了28 GHz,芯板预留PCB产品的损耗大约为1 dB/inch(0.039 37 dB/mm),这也就意味着产品要在28 GHz的情况下满足上述损耗要求;另一方面,PCB制作商们为了节省制作时间,减少制作工步,广泛采用深微孔技术,激光从L1层直接击穿到L3层,甚至L4层,这对PCB的激光加工和沉铜电镀带来了新的挑战。
| 112 G高速信号传输路径分析
高速信号从光模块接口位置通过L1到L3的盲孔传导到内层L3层,L3层经过一小段差分传输线后通过双面背钻孔传导至L14层,L14经过很长一段差分传输线后,通过单面背钻孔传导至球栅阵列(Ball Grid Array英文全称,BGA)位置。至此,信号传输完成。
| 孔阻抗测试
为测试底PAD对孔阻抗的影响,设计了2组对照实验,具体参数见表1。
通过模拟软件进行模拟,结果如图1所示。由底PAD设置为0.4 mm,则过孔阻抗为95 Ω与后端线阻抗的要求值93 Ω相匹配;当其他条件不变,过孔底PAD设置为0.55 mm时,过孔阻抗则会下降至85 Ω,远小于93 Ω的传输线要求阻抗。由此带来的信号反射将导致接收端误码率的急剧上升,最终无法解码信号。因此,对于112 G产品,需在前期的设计中进行孔阻抗仿真,保证孔阻抗与线阻抗的一致性。
| 对位能力测试
由前期研究可知,为保证孔阻抗和线阻抗的一致性,在底PAD的补偿基础上,不能过多的加大补偿,造成PCB制造过程中对位精度的提高。通常,我司为了确保对位准确,将最小焊环设置为0.15 mm,由前期的孔阻抗仿真数据可知,0.25 mm孔径,焊环0.15 mm,则底PAD大小为0.55 mm,阻抗仅为85 Ω,不符合要求,需要减小焊环大小。将焊环大小改为0.075 mm,这意味着盲孔与PAD的对位精度要控制在0.075 mm以内。一般情况下,盲孔对位有两种形式:抓综合靶标对位或抓盲孔底PAD所在层对位;两种对位形式的优缺点见表2。
如图2所示,采用抓盲孔底PAD的对位方式,可确保盲孔居中对齐,因此,需解决可能存在的通孔与盲孔不匹配的问题。一般情况下,外层曝光系数抓取的为通孔的涨缩系数,制作通孔时,需抓取的综合靶标,因此,外层曝光系数是每一层偏移量的综合系数;而盲孔抓取的为单层靶标,就是某一层的偏移量,当整体的偏移量与单层的偏移量差距过大时,会导致外层的通孔PAD与盲孔对不上。
为了解决这一现象,我司采用了一种称为梅花孔的外层图形的对位靶标。制作过程为:制作盲孔时在板的四角分别钻一圈盲孔;制作通孔时,在一圈盲孔的中间位置钻一个通孔,作为通孔靶标,如图3所示;进行外层曝光时,需抓取每个角的盲孔靶标和通孔靶标来完成制作。这表明外层的曝光系数为通孔和盲孔的平均系数,这一操作可有效防止盲孔偏离外层PAD。
| 激光钻孔能力测试
关于盲孔的加工,为了节省加工流程,加快制作时间,本产品将2次压合的制作方式改为一次压合,这也就意味着在制作盲孔时要同时完成L1到L2层和L1到L3层的盲孔制作。这样的制作方式,带来的挑战主要是两方面:盲孔制作难度的加大和电镀制作难度的加大。在盲孔制作方面:为了满足L1到L3层的孔径为盲孔制作,首先将对应的盲孔上方的L2层掏隔离环,其次,为了保证上下孔径比,采用扩孔的方式制作,激光小孔叠孔排列绕烧,先烧外围再烧内部,小孔重叠率按85%设计,盲孔设计如图4所示。
关于盲孔的加工,为了节省加工流程,加快制作时间,本产品将2次压合的制作方式改为一次压合,这也就意味着在制作盲孔时要同时完成L1到L2层和L1到L3层的盲孔制作。这样的制作方式,带来的挑战主要是两方面:盲孔制作难度的加大和电镀制作难度的加大。在盲孔制作方面:为了满足L1到L3层的孔径为盲孔制作,首先将对应的盲孔上方的L2层掏隔离环,其次,为了保证上下孔径比,采用扩孔的方式制作,激光小孔叠孔排列绕烧,先烧外围再烧内部,小孔重叠率按85%设计,盲孔设计如图4所示。
| 背钻孔加工能力测试
对孔阻抗的管控,需管控信号过孔的背钻残桩,残桩的存在不仅会导致孔阻抗降低,还会导致信号损失增加,管控背钻残桩长度是控制高速信号完整性的一大重点措施[5]。客户通过前期的仿真测试,发现预留0.2 mm的残桩长度可满足信号传输的要求。因此,我司背钻残桩按照小于0.2 mm管控。为满足整板任意位置满足背钻残桩的需求,我司采用分堆分区制作,具体制作流程如下:
(1)全测背钻孔位置的板厚,将同一位置,板与板之间极差大于0.1 mm的板进行分堆,每一堆的板都分别用不同的背钻参数。
(2)针对同一块板,对板厚差异大于0.1 mm的孔进行分区域背钻处理。每个区域采用不同的背钻控深参数,并确认首件的切片。
基于以上加工方式,随机取不同位置的背钻切片,如图6所示,均满足小于0.2 mm的管控要求。
| 结论
本文对112G产品的孔阻抗展开研究,112 Gbps高速产品在设计与制造过程中需满足如下管控要点:
(1)进行孔阻抗设计时,需开展仿真工作,以确保孔阻抗与线阻抗保持一致。
(2)加工激光盲孔时,鉴于减小了盲孔底PAD的补偿值,需确保盲孔对位精准。此外,因盲孔加工方式为L1到L3层的激光盲孔,因此,需重点管控盲孔孔铜。
(3)背钻stub的长度也需要进行仿真,从而得出合适的背钻stub管控要求,制造时需按照要求对所有背钻孔实施管控。
参考文献
[1]陈春华,周文涛,段胜彪,等.112G通讯产品板制作关键技术探讨[J].印制电路信息,2024,32(s1):93-103.
[2]彭毅.基于PCIe 5.0高速连接器的信号完整性分析[D].绵阳:西南科技大学.2024.
[3]赵号,邓磊刚,吕圣泽,.PCB设计中阻抗匹配的信号改善方法[J].印制电路信息,2023,31(9):8-12.
[4]李继岚,韩冰,周昊,等.高速PCB多面板过孔阻抗匹配的优化与改善[J].工业控制计算机,2022,35(8):157-158.
[5]许伟廉,黄李海,冯冲,等.高速PCB差分插入损耗影响因素研究[J].印制电路信息,2023,31(s2):26-34.
[6]雷璐娟,雷川,李金鸿,等.高速PCB插损影响因子研究[J].印制电路信息,2022,30(s1):28-34.
[7]肖强,代海龙.激光微孔加工复合工艺研究进展[J].半导体光电,2025,46(05):784-794.
[8]罗炜艳,曹子鲲,上官昌平,等.新型激光加工微盲孔能力研究[J].印制电路信息,2024,32(10):1-10.
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