国家知识产权局信息显示，上海御微半导体技术有限公司申请一项名为“一种用于硅片检测的图像处理方法及硅片检测设备”的专利，公开号CN122115379A，申请日期为2026年2月。

专利摘要显示，本申请属于半导体检测技术领域，具体涉及一种用于硅片检测的图像处理方法及硅片检测设备。图像处理方法包括：通过旋转扫描硅片以获取硅片的全部图像和各图像中心点的坐标；依据各图像中心点的坐标大小对各图像进行分组平场校正，得到各图像的校正图像；将校正图像进行线性定向拼接，提取相邻校正图像的拼接处图像，消除相邻校正图像的拼缝，得到线性拼接图像，将线性拼接图像反极坐标转换，得到各组的环形拼接图像；将相邻的环形拼接图像进行拼接，提取相邻环形拼接图像的拼接处图像，消除相邻环形拼接图像的环形拼缝，得到完整拼接图像。本申请通过坐标分组校正与分阶段拼缝消除的组合，从根源上解决了灰度不均与拼接痕迹明显的问题。

天眼查资料显示，上海御微半导体技术有限公司，成立于2019年，位于上海市，是一家以从事零售业为主的企业。企业注册资本31200万人民币。通过天眼查大数据分析，上海御微半导体技术有限公司参与招投标项目45次，财产线索方面有商标信息45条，专利信息106条，此外企业还拥有行政许可15个。

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作者：情报员