国家知识产权局信息显示，深圳市晶存科技股份有限公司；深圳晶存技术有限公司申请一项名为“固态硬盘的低温老化测试方法、装置、设备及存储介质”的专利，公开号CN122575451A，申请日期为2026年7月。

专利摘要显示，本发明公开了一种固态硬盘的低温老化测试方法、装置、设备及存储介质。方法包括：对待测固态硬盘进行全盘预读扫描，并基于全盘预读扫描结果识别待测固态硬盘的低温敏感区；对待测固态硬盘不同敏感等级的物理区块写入差异化的干扰测试数据，并同步施加模拟真实使用场景的复合负载压力；在施加复合负载压力过程中，监测待测固态硬盘的健康状态与响应延迟，并基于监测到的健康状态与响应延迟动态调节施加复合负载的压力水平，并捕获待测固态硬盘故障演变过程的关键退化指标；根据记录的关键退化指标计算低温老化损耗因子，并根据低温老化损耗因子对待测固态硬盘进行分级处理。本发明有效的提高了固态硬盘低温老化测试的准确性。

天眼查资料显示，深圳市晶存科技股份有限公司，成立于2016年，位于深圳市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本10216万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市晶存科技股份有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目1次，财产线索方面有商标信息30条，专利信息202条，此外企业还拥有行政许可13个。

深圳晶存技术有限公司，成立于2022年，位于深圳市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本5000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳晶存技术有限公司参与招投标项目2次，专利信息2条，此外企业还拥有行政许可4个。

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作者：情报员