国家知识产权局信息显示，大连理工大学、沈阳和研科技股份有限公司申请一项名为“精密机床XY轴联动平面与转台平面平行度非接触式测量方法与装置”的专利，公开号CN122666351A，申请日期为2026年5月。

专利摘要显示，精密机床XY轴联动平面与转台平面平行度非接触式测量方法与装置，属于精密数控机床几何精度检测技术领域。测量装置包括多自由度角度调整平台、安装夹具、同轴共聚焦激光位移传感器、激光束及划片机自身的数控系统。首先，使同轴共聚焦激光位移传感器在量程范围内；其次，对激光位移传感器的激光束与转台基准面垂直度精调，使得垂直度在预设的垂直度阈值范围内；再次，进行圆轨迹运动与数据采集，得到距离数据序列；最后，对距离数据序列进行处理，实现平行度误差计算与分析。本发明能够自动计算划片机XY轴联动平面相对转台基准面平行度误差，解决传统方法效率低、易划伤且无法在机测量平面的问题，实现划片机几何精度的快速高精度在机检测。

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作者：情报员