国家知识产权局信息显示，三星显示有限公司申请一项名为“功能层检查方法和功能层检查装置”的专利，公开号CN122689663A，申请日期为2026年3月。

专利摘要显示，提供了功能层检查方法和用于其的功能层检查装置，所述功能层检查方法包括通过检查装置测量基体衬底上的样品的偏振状态，以及通过测量数据计算样品的物理性质值。样品包含第一材料和第二材料。所述计算包括对样品的光谱进行建模，将所述样品在所述样品的厚度方向上分级成多个层，测量所述多个层中的每一层在所述光谱中的峰变化的不均匀性，以及计算分析值以计算所述样品的所述第一材料的含量。

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作者：情报员