上一期我们在了解荧光光谱测试原理时，介绍了荧光光谱仪输出数据：激发谱和发射谱。它们分别研究的是荧光现象激发过程与发射过程中，光线波长与对应荧光强度的关系。
本期我们将继续介绍可通过荧光光谱仪收集到的其他参数：荧光寿命、量子产率。
定义理解
当样品的荧光强度从最大光强下降到最大光强的1/e时候所需要的时间。
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根据上述定义，那是不是可以通过测试照射激光和接收到荧光的时间，计算时间差就能得到荧光寿命？
答案是否定的。因为样品分子从激发态回落到基态并不是同时发生的，有的可能立刻就回落发射荧光，有的要等较长时间。所以，实际我们不可能统计到每个分子保持激发态的时间。
荧光寿命的定义是一种统计学的期望，即样品分子在激发态存在的统计学时间。简单理解，荧光寿命代表的是大多数的分子可能在激发态保持的时间。
定义理解
一定单位时间（s）内，产生荧光的光子数与激发光源的光子数之比。
一束激光照到样品上，并不是所有的分子都能被激发，有的容易激发，有的可能压根就不激发。因而，我们可以通过量子产率来评估一个样品产生荧光的难以程度，也能探究样品分子内部的一些结构。
常见的荧光玩具量子产率应该是比较高的，因为我们需要它容易产生荧光。若有些特殊场景不需要这种荧光现象，就可以考虑优选不产生荧光的材料。
应用思考
荧光寿命和量子产率，似乎只是揭示了一些物质的基本属性，关注它们有什么用呢？大家可以想一想～
某个物质会产生荧光，是不是可以直接用光强来做定量计算？
如果某个物质容易产生荧光又可以和特定物质结合，是不是就可以用荧光来测量该物质的分布？
如果用多个荧光寿命不同的物质去做特定标记，是不是可以直接在不破坏组织的情况下，直接看到这些物质的分布与含量？
以上是一些具体应用场景，你还能想到哪些？欢迎关注，继续交流～
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