国家知识产权局信息显示，深圳市三利谱光电科技股份有限公司申请一项名为“偏光片检测方法、检测设备及计算机可读存储介质”的专利，公开号CN122900822A，申请日期为2026年7月。

专利摘要显示，本申请涉及光学检测技术领域，提供一种偏光片检测方法、检测设备及计算机可读存储介质。偏光片检测方法包括：获取偏光片的结构参数和预设的拍照次数n，结构参数包括偏光片的总厚度、离型膜的厚度、保护膜的厚度、有效检测层向离型膜的第一偏移厚度以及有效检测层向保护膜的第二偏移厚度中的一项或多项；根据结构参数和拍照次数n确定对焦位置序列以及分层边界序列；根据对焦位置序列以及分层边界序列控制拍照设备对偏光片进行n次拍照，并输出各次拍照对应的偏光片的深度区间。对第一个分层进行拍照时能够完整覆盖有效检测层顶部区域，对最后一个分层进行拍照能完整覆盖偏光片的底部区域，且每一个分层在对应的景深范围内成像清晰度最大化。

天眼查资料显示，深圳市三利谱光电科技股份有限公司，成立于2007年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本17388.4932万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市三利谱光电科技股份有限公司共对外投资了12家企业，参与招投标项目17次，财产线索方面有商标信息20条，专利信息165条，此外企业还拥有行政许可41个。

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作者：情报员