功率循环可靠性测试设备TL-PC12000W3用在中低频二三极管、MOS管、IGBT管等半导体大功率器件/功率模块进行测试

1.试验功能:

直流Power Cycling(PC)、附加OPL

1.1PC描述:

使∆TJ≥100℃(∆TJ =TJ【MAX】-TJ【MIN】)到循环次数结束,基于目的不同分两种方式:

① ∆TJ Power Cycling(秒级/fast)

② ∆TC Power Cycling(分钟级)&(∆TC=TC【MAX】-TC【MIN】)

每种方式各有4种循环模式:

① 恒流IH循环模式(∆TJ ↑)

② 恒定PD循环方式(∆TJ ↑)

③ 恒定∆TJ循环模式(TON←、TOFF→)

④ 恒定∆TC循环模式(TON←、TOFF→)

1.2OPL描述:

※ 恒定PD使TJ=TJ【MAX】,并保持恒定,到时间结束,以下描述忽略此项。

2. 参数检测:

温度参数检测:

① TJ检测:K系数法检测(VF - TJ曲线法)

② TC检测:传感器实时检测试验器件壳温

③ TS检测:传感器实时检测试验器件热沉温度

电参数检测:

① VGE检测:实时检测试验器件门级电压

② VCE检测:实时检测试验器件两端电压

③ ICE检测:实时检测试验器件两端电流

3. 数据处理:

基于参数检测,分别实时得出试验参数:

① TJ、∆TJ

② VF、VON

③ Rth【J-C】、Rth【J-S】

4. 失效控制:

对数据处理后得出TJ、∆TJ 、VF、VON、Rth【J-C】、Rth【J-S】等试验结果,并作为样品失效的触发条件对试验进行必要的控制。

5. 试验依据:

参照JESD51、IEC60747、AQG324、AEC-Q101、MIL-STD-750等。

6. 试验效率:

3个并行独立试验工位

7.产品配置:

1. 系统主机部分:

1.1. 试验腔:

型号规格:

TL-PC03B

功能特点:

可放置3个水冷板热沉,3个工位的试验驱动、偏压、检测、冷水散热端口引入试验腔。

整个试验腔体防凝露处理,低温不凝露

具有烟雾报警和安全处理装置。

技术参数:

内腔尺寸:W1200×H500×D600(mm)

1.2. 热沉:

型号规格:

PC15KW

功能特点:

水冷板,水流速根据降温要求自适应调节;

紫铜材质;防凝露处理;气动连接器件

技术参数:

尺寸尺寸:W300×H200×D400(mm);温度范围:15℃~150℃

1.3. 试验电源:

型号规格:

XDC20V600A

功能特点:

器件加热功率电源

程控电源,可手动调节。

各试验电源之间无关联性,独立运行。

技术参数:

尺寸规格:19寸6U电源

控制方式:程控

电压输出范围:DC0~20.0V可设置

电流输出范围:0~600.0A

输出纹波:≤60mV

可靠性:持续满载运行时间>1000小时

安全保护:过热、过压、过流主动保护

1.4. 驱动检测板:

型号规格:

PC15KW

功能特点:

驱动检测1个工位的各项试验参数

驱动检测板之间无关联性,独立运行。

技术参数:

加热功率:

IH驱动(总):0~600A,可并联使用,扩展1800A

VH驱动:0~20.0V

VG驱动:0V~+20.00V,0V~-15.00V

检测驱动:1工位

IM驱动:5~1000mA

IH检测:0~1800A

UH检测:0~24.00V

VF检测:0~10000mV(**值)

TJ检测:室温~+200.0℃

测试延时:≤100us

测试周期:≤200us

1.5. PC软件系统:

型号规格:

XLW-PC.SYS2.0

功能特点:

集成硬件、电脑界面完成试验设置、控制、参数显示、试验数处理、曲线绘制等。

工业电脑

数量1套,23寸显示屏、I5处理器、1T硬盘、Win7操作系统,强制冷却散热系统,可长期持续稳定运行>1000小时。

技术参数:

主界面:12通道试验参数、试验数据、自动摸底、试验控制等集中展示和汇总。

器件库:器件新建、保存、删除功能。响应时间<1.5秒。

试验控制:试验【开始】、【暂停】、【继续】、【停止】,集成于主界面;控制动作执行时间<1秒。

曲线查看:【实时曲线】和【试验开始至当前时刻曲线】;采集时间*小时间间隔1秒。

数据导出查询:一键导出试验数据。容量取决于硬盘容量。

导出Excel:试验参数和数据集成一体,导出时间<15秒。

2. K系数测试仪:

型号规格:

K150T1

功能特点:

1立方英尺无风高温箱

恒温点读取温度以样品表面温度为准

恒温点可设置多个,一键自动完成K系数测试

技术参数:

工位数:1工位。

IM:5mA~10000mA。

VF测试:1个,0~10000mV,开尔文测试法。

TJ检测:实时监测,测试延时≤100us、测试周期≤200us