在三坐标测量机（CMM）系统中，探针是连接“几何世界”与“数字世界”的核心部件。探针系统的计量性能并不等同于整机 CMM 精度，但其单点探测误差直接影响最终的长度测量误差与形位评定结果。本文基于ISO 10360 与 VDI/VDE 2617等通用计量规范，从计量学角度对 CMM 探针技术进行系统解析。
触发探头是什么？
触发式测头是在接触瞬间输出单一坐标点的探测系统，其核心计量指标为单点探测误差。
触发式测头在探针球接触工件并达到设定触发力阈值时，输出一次坐标数据，属于离散点测量模式。
（1）计量学特征：
①单次接触 → 单个采样点
②探测过程近似静态
③主要误差来源为触发重复性与结构回弹
（2）典型计量性能指标：单点探测误差 P_FTU ≤ 0.5 µm
该指标通常依据ISO 10360-5 或VDI/VDE 2617 Part 2中的触发式测头测试方法，在标准球条件下获得。根据 VDI/VDE 2617 表格定义，P值用于评价测头自身的探测能力，不等同于 CMM 的长度测量误差 E。
（3）适用场景：
①尺寸与位置公差检测
②孔径、台阶、中心距测量
③中小批量离线检测任务
2.扫描探针是什么？
扫描式测头是在保持恒定接触力条件下，连续输出坐标点的探测系统。
扫描式测头：
扫描式测头在工件表面连续运动，通过力控系统维持稳定接触状态，实时采集高密度坐标点，属于动态连续测量模式。
（1）计量学特征：
①连续接触 → 点云数据
②误差来源包含动态力变化、结构变形与控制算法
③探测误差与扫描速度、路径高度相关
（2）典型计量性能指标：扫描单点探测误差 P_STU：1–3 µm
该指标通常依据ISO 10360-4或VDI/VDE 2617 Part 3中的扫描测头测试规范，在规定扫描速度与力控条件下测得。
三、触发式与扫描式探针的计量性能差异是什么？
在计量圈子里，我经常听到这样一个误区：“扫描测头比触发测头更贵，所以它肯定在所有情况下都更准。”
从计量学定义上看，触发式测头 P 值小于扫描式测头是符合标准逻辑的结果，并不构成性能矛盾。如果我们单纯看单点探测误差（P值）——也就是测头接触那一下的基本功，你会发现一个反直觉的现象：老牌的触发式测头往往表现得更出色（P值通常 ≤ 0.5 µm），而高端的扫描式测头反而略逊一筹（P值多在 1-2 µm 之间）。
所以，触发式vs扫描式选型很简单：
①触发式测头更适合高重复性点位定义
②扫描式测头更适合真实形状重建
记住，没有最好的测头，只有最适合场景的测量策略。
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