国家知识产权局信息显示，浙江大学;浙江创芯集成电路有限公司申请一项名为“一种基于R树建图的集成电路版图热点检测方法”的专利，公开号CN121411087A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明公开一种基于R树建图的集成电路版图热点检测方法，首先将集成电路版图文件中每一个独立且连续的多边形创建为图结构中的节点，运用R树建立空间邻接关系，并采用多边形轮廓扩张技术判定节点连接性，当扩张后的多边形存在面积重叠时即建立连接边，进而构建得到图结构，输入至图神经网络模型中得到每个节点的热点预测结果。本发明能够在完全避免矩形分割的前提下，实现既能精确保持版图几何特征又能高效构建图结构的创新方案，有效提升了模型对复杂真实版图的表征能力和检测效率。

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作者：情报员