国家知识产权局信息显示，深圳市达芯半导体科技有限公司申请一项名为“一种红外焦平面探测器寿命预测方法及系统”的专利，公开号CN121558190A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，本发明公开了供一种红外焦平面探测器寿命预测方法，通过构建Arrhenius–Weibull联合模型并结合空间神经网络，实现了红外焦平面探测器在多加速应力条件下的像素级寿命预测。该方法基于老化率的闭环自适应加速控制，可实时调节温度、电压、光照及湿度，使像素老化过程处于最优加速区间，从而显著缩短测试周期。通过分层级Weibull模型对像素、区域及整机寿命分布进行拟合，提升了预测的精度与稳定性。Arrhenius–Weibull联合模型能够综合反映多物理场加速应力对寿命的耦合影响，而空间神经网络可捕捉像素间的空间相关性及非线性退化特征。与现有方法相比，本发明能够实现高精度、快速的寿命预测。

天眼查资料显示，深圳市达芯半导体科技有限公司，成立于2025年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本2000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市达芯半导体科技有限公司专利信息13条，此外企业还拥有行政许可1个。

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作者：情报员